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日本J-RAS
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離子遷移試驗裝置(CAF)
導通電阻試驗裝置(RTM)
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ECM-100離子遷移測試裝置(CAF)
ECM-100離子遷移測試裝置(CAF)是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION )。
更新時間:
2025-07-04
訪問量:
15190
型號:
ECM-100
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HVUα-2000V離子遷移實驗裝置(CAF)
離子遷移實驗裝置(CAF) 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
更新時間:
2025-07-04
訪問量:
4317
型號:
HVUα-2000V
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ECM-500J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)絕緣電阻值測試,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
更新時間:
2025-07-04
訪問量:
5096
型號:
ECM-500
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HVUα-1000VJ-RAS離子遷移試驗裝置
J-RAS離子遷移試驗裝置 絕緣可靠性評估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
更新時間:
2025-07-04
訪問量:
4528
型號:
HVUα-1000V
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ECM-100日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試
日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
更新時間:
2025-07-04
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8756
型號:
ECM-100
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ECM-100/100-100J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
J-RAS代理離子遷移試驗裝置 CAF測試,J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)ECM-100是可以單獨試驗的ALL-IN-ONE檢測系統,并且重要的試驗數據被保存到CF存儲卡。作為系統構成我們準備了40CH/100CH型,可以根據您的預算、設置空間來進行選擇。
更新時間:
2025-07-04
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4546
型號:
ECM-100/100-100
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